NF C96-022-1-2003 半导体装置.机械和气候试验方法.第1部分:总则

作者:标准资料网 时间:2024-05-19 03:56:33  浏览:9561   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part1:general.
【原文标准名称】:半导体装置.机械和气候试验方法.第1部分:总则
【标准号】:NFC96-022-1-2003
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2003-11-01
【实施或试行日期】:2003-11-05
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:环境试验;大气压;机械试验;半导体器件;半导体;气候;试验;集成电路;外观检查(试验);特性;环境条件;环境;易燃性;电学测量;温度变化;气候试验;潮气;电子设备及元件;电气工程;尺寸;元部件;耐力;温度;电子工程
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:10P;A4
【正文语种】:其他