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BS EN 60191-6-20-2010 半导体器件的机械标准化.表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则.小外形J-引线封装(SOJ)的封装尺寸规格测量方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-26 07:39:31  浏览:8950   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Mechanicalstandardizationofsemiconductordevices.Generalrulesforthepreparationofoutlinedrawingsofsurfacemountedsemiconductordevicepackages.MeasuringmethodsforpackagedimensionsofsmalloutlineJ-leadpackages(SOJ)
【原文标准名称】:半导体器件的机械标准化.表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则.小外形J-引线封装(SOJ)的封装尺寸规格测量方法
【标准号】:BSEN60191-6-20-2010
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2010-12-31
【实施或试行日期】:2010-12-31
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:机箱拉件;元部件;连接尺寸规格;连接;设计;尺寸规格;图纸;电气外壳;电气工程;电子工程;电子设备及元件;外壳;工程图;架设(施工作业);格栅体系;图例;集成电路;作标记;矩阵;机械工人;包装件;半导体器件;半导体包装;半导体;表面安装设备;表面安装;表面安装装置;符号;类型
【英文主题词】:Casedrawing;Components;Connectingdimensions;Connections;Design;Dimensions;Drawings;Electricenclosures;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Enclosures;Engineeringdrawings;Erecting(constructionoperation);Gridsystems;Illustrations;Integratedcircuits;Marking;Matrices;Mechanic;Packages;Semiconductordevices;Semiconductorpackage;Semiconductors;SMD;Surfacemounting;Surfacemountingdevices;Symbols;Types
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:01_100_25;31_240
【页数】:16P;A4
【正文语种】:英语


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【英文标准名称】:Samplingproceduresforinspectionbyattributes--Part1:Samplingschemesindexedbyacceptancequalitylimit(AQL)forlot-by-lotinspection
【原文标准名称】:计数抽样检验程序.第1部分:用于逐批检验按可接受质量界限(AQL)检索的抽样计划
【标准号】:JISZ9015-1-2006
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:2006-11-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:抽样表;统计质量控制;合格性;验收质量极限;验收;验收(鉴定);总量;合格质量级值;批量范围;批量检验;批量;特性;消费者与供货者的关系;缺陷与故障;缺陷;定义;误差;检验;计数检查;方法;多语种的;规程;质量保证;质量控制;质量管理;随机试样;样品试验;抽样方法;统计方法分析;统计学;试验;单位
【英文主题词】:
【摘要】:この規格は,計数値合否判定抜取検査手順について規定する。この規格では,品質指標としAQL(合格品貿限界)を使用する。
【中国标准分类号】:A41
【国际标准分类号】:03_120_30
【页数】:92P;A4
【正文语种】:日语



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