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IEC 60191-6-20-2010 半导体器件的机械标准化.第6-20部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制准备的一般规则.小外形J-铅封装(SOJ)的包装尺寸规格用测量方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-15 19:29:11  浏览:9611   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Mechanicalstandardizationofsemiconductordevices-Part6-20:Generalrulesforthepreparationofoutlinedrawingsofsurfacemountedsemiconductordevicepackages-MeasuringmethodsforpackagedimensionsofsmalloutlineJ-leadpackages(SOJ)
【原文标准名称】:半导体器件的机械标准化.第6-20部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制准备的一般规则.小外形J-铅封装(SOJ)的包装尺寸规格用测量方法
【标准号】:IEC60191-6-20-2010
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2010-08
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/SC47D
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:案例绘图;组件;连接尺寸;连接件;设计;尺寸规格;图纸;电气外壳;电气工程;电子工程;电子设备及元件;外壳;工程图;架设(施工作业);格栅体系;图例;集成电路;作标记;矩阵;力学;包装件;半导体器件;半导体封装;半导体;表面安装设备;表面安装;表面安装装置;符号;类型
【英文主题词】:Casedrawing;Components;Connectingdimensions;Connections;Design;Dimensions;Drawings;Electricenclosures;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Enclosures;Engineeringdrawings;Erecting(constructionoperation);Gridsystems;Illustrations;Integratedcircuits;Marking;Matrices;Mechanic;Packages;Semiconductordevices;Semiconductorpackage;Semiconductors;SMD;Surfacemounting;Surfacemountingdevices;Symbols;Types
【摘要】:ThispartofIEC60191specifiesmethodstomeasurepackagedimensionsofsmalloutlineJlead-packages(SOJ),packageoutlineformEinaccordancewithIEC60191-4.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:26P.;A4
【正文语种】:


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【英文标准名称】:DigitalEnhancedCordlessTelecommunications(DECT)-CommonInterface(CI)-Part8:speechandaudiocodingandtransmission(V2.2.1).
【原文标准名称】:数位加强式无线通讯系统(DECT).公用接口(CI).第8部分:语音和声谱编码和传送(V2.2.1)
【标准号】:NFZ84-175-8-2010
【标准状态】:作废
【国别】:法国
【发布日期】:2010-01-01
【实施或试行日期】:2010-01-16
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:无线的;数位加强式无线通讯系统(DECT);数字的;数字电路;数字工程;数字信号;编码;欧洲的;接口(数据处理);语言;物理层;公共的;无线电工程;无线电设备;无线电广播网;无线电系统;无线电话;语言识别;语音传输;通信;电信;电话系统;电话技术;无线通信业务
【英文主题词】:Cordless;DECT;Digital;Digitalcircuits;Digitalengineering;Digitalsignals;Encoding;European;Interfaces(dataprocessing);Languages;Physicallayers;Public;Radioengineering;Radioequipment;Radionetworks;Radiosystems;Radiotelephones;Speechrecognition;Speechtransmission;Telecommunication;Telecommunications;Telephonesystems;Telephonetechnics;Wirelesscommunicationservices
【摘要】:
【中国标准分类号】:M14
【国际标准分类号】:33_070_30
【页数】:159P;A4
【正文语种】:其他


基本信息
标准名称:黄金制品的扫描电镜X射线能谱分析方法
英文名称:Analysis method for gold products with X-ray EDS in SEM
中标分类: 仪器、仪表 >> 物质成分分析仪器与环境监测仪器 >> 电化学、热化学、光学式分析仪器
ICS分类: 化工技术 >> 分析化学 >> 有关化学分析方
替代情况:替代GB/T 17362-1998;GB/T 17723-1999
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2008-09-18
实施日期:2009-05-01
首发日期:1998-05-08
作废日期:
主管部门:国家标准化管理委员会
提出单位:全国微束分析标准化技术委员会
归口单位:全国微束分析标准化技术委员会
起草单位:北京有色金属研究总院、核工业总公司北京地质研究院,北京钢铁研究总院
起草人:刘安生、张宜、毛允静
出版社:中国标准出版社
出版日期:2009-05-01
页数:12页
计划单号:20060579-T-469
适用范围

本标准代替GB/T 17362-1998《黄金饰品的扫描电镜X 射线能谱分析方法》和GB/T 17723-1999《黄金制品镀层成分的X 射线能谱测量方法》两个标准。
本标准规定了用配置在扫描电镜上的X射线能谱仪对黄金制品化学成分进行无损定量分析的方法和技术要求。
本标准与GB/T 17362-1998和GB/T 17723-1999两个标准相比主要修改如下:
———将适用范围进行了合并,使其能分别适用于不同含金量的K 金制成的黄金制品和表面有含金镀层的镀金制品的镀层成分的测定这两种情况;
———将原来两个标准的相关章节,删去重复的部分,对不同的部分进行整理加工形成新的文本;
———删去了GB/T 17723中“术语”这一节;
———原标准中“饰品”一律改为“制品”;
———本标准不再规定选用的校正程序,操作人员可根据实际分析的试样,自行选择采用;
———着重强调测定镀层制品时,工作电压的选择,这是对镀层成分能否测准的关键所在。

前言

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目录

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引用标准

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。
GB/T4930 电子探针分析标准样品通用技术条件

所属分类: 仪器 仪表 物质成分分析仪器与环境监测仪器 电化学 热化学 光学式分析仪器 化工技术 分析化学 有关化学分析方

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